半導(dǎo)體器件CV特性測(cè)試
TH510系列半導(dǎo)體器件C-V特性分析儀
性能特點(diǎn)
■ 10.1英寸電容式觸摸屏，分辨率1280*800，Linux系統(tǒng)
■ 雙CPU架構(gòu)LCR，*快達(dá)0.56ms（1800次/秒）的測(cè)試速度
■ 點(diǎn)測(cè)、列表掃描、圖形掃描(選件)三種測(cè)試方式
■ 四寄生參數(shù)（Ciss、Coss、Crss、Rg）同屏測(cè)量及顯示
■ 快速導(dǎo)通測(cè)試Cont
■ 一體化設(shè)計(jì)：LCR+高壓源+通道切換
■ 標(biāo)配2通道測(cè)試，可同時(shí)測(cè)試兩個(gè)器件或雙芯片器件，通道
*多可擴(kuò)展至6通道，通道參數(shù)單獨(dú)保存
■ 快速充電，縮短電容充電時(shí)間，實(shí)現(xiàn)快速測(cè)試
■ 自動(dòng)延時(shí)設(shè)置
■ 高偏置：VGS：0 - ±40V，VDS：0 – 200V/1500V
■ 10檔分選
應(yīng)用
■ 半導(dǎo)體元件/功率元件
二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光電子芯片等寄生電容測(cè)試、C-V特性分析
■ 半導(dǎo)體材料
晶圓、C-V特性分析
■ 液晶材料
彈性常數(shù)分析