老化ATE系統高效高性能方案——IT-M3100D
制造業(yè)要實現高效大規(guī)模的自動化生產模式，在產線上需要使用可靠穩(wěn)定且高效的ATE測試系統，其中，老化測試系統是電子行業(yè)中非常常見的一種ATE。不管是元件，部件，整
機還是設備都需要進行老化測試，一方面可以預測產品的壽命，同時也可以促使隱藏于產品
內部的各種潛在缺陷及早暴露，從而達到早期剔除失效產品的目的。
傳統的老化方案是通過簡易的電源模塊給DUT提供穩(wěn)定供電，由電阻箱進行拉載，這
種方案盡管可以降低設備成本，企業(yè)也需要投入更多的成本用于老化室的散熱。隨著“碳達
峰、碳中和”的相關發(fā)展政策落地，傳統的老化方案還可能會導致企業(yè)耗電量過高。從性能
方面來看，傳統的老化方案在模塊精度及速度、數據采樣、數據遠端訪問、測試吞吐量、維
護以及可擴展性方面都不夠靈活，無法滿足類似半導體芯片老化，軌道交通控制電源模塊老
化，汽車精密元器件以及車燈老化等待測物參數規(guī)格多、測試精度要求高的使用場景。
那么，如何搭建一套高性能又高效，兼具當下和未來需求擴展的老化系統呢？選擇合
適的老化測試儀器尤為關鍵。
1） 選用緊湊型、高功率密度的老化源或老化載，提升單機柜老化吞吐量。
以 ITECH *新雙通道直流電源 IT-M3100D為例，僅1/2 1U的標準體積內，兩個通道
可同時分別輸出400W功率，單機柜內*多可集成80個通道。通道相互隔離，即便單個通
道出現異常，不影響整體的老化運行。不僅如此，IT-M3100D雙通道之間支持串并聯以輕松
擴展老化電壓和功率范圍，系列單機可達 100V/10A/800W 或 30V/30A/800W 的單通道輸出，
滿足用戶不同規(guī)格產品老化需求。
2） 選用具備同步功能的老化測試設備，提升批量老化參數設置效率。
在批量的老化測試中，用戶往往需要對數百個通道的老化儀器設置相同的老化參數。
一般是通過軟件對每個通道依次發(fā)送相同的設置指令實現，這種方式受限于通信時間，效率
低?？紤]到老化應用的一致性，IT-M3100D系列特別內置多通道同步控制功能，開啟該功
能，可以將*多8臺 M3100D（16CH）設備級聯在一起。測試人員只需要對其中一臺進行
電壓/電流的設置，其余通道自動復制，提升批量參數的設置效率。
3）選用具備通道級聯功能的設備，可優(yōu)化數百通道老化的通信接線。
當老化的通道數高達上百通道時，通信連接將成為一個頭疼的問題，因為每個通道需
要引出一根通信電纜，密密麻麻的線纜會使得通信排查變得異常困難。為幫助工程師優(yōu)化接
線，IT-M3100D系列通過通道級聯功能，PC只需要通過一根網線連接到其中一臺電源，即
可完成對16CH的程控簡化了通信接線。IT-M3100D系列 支持 CANOPEN、LXI、SCPI 等多
種通訊協議。五種選配卡實現即插即用功能，提供RS 2 3 2 、C A N、LAN、GPIB、USB_TMC、
USB_VCP、RS485、外部模擬量和IO等多種控制方式。
4）選用回饋式老化設備，節(jié)省電費成本。
在老化系統集成中，采用回饋式的負載替代傳統電阻箱，可以為企業(yè)節(jié)省一大筆電費
支出。回饋式負載可以將從 DUT吸收的能量逆變?yōu)榻涣麟?，供廠內其他用電負荷。目前針
對老化應用，ITECH提供從幾百W到MW級的回饋設備，回饋效率*高可達 95%（ITM3300/IT-M3800/IT8000）。
選擇合適的老化儀器，不僅可以提升企業(yè)的老化效率，還可以提升系統穩(wěn)定性和易操
作性。IT-M3100D系列雙通道電源可廣泛使用在半導體、智能電子產品、LEN、電源等行業(yè)，
更多信息聯系我們。
